2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器是一些系統(tǒng)中至為關(guān)鍵的模塊,如磁盤驅(qū)動讀寫系統(tǒng),超寬帶(UWB,Ultra-Wideband)通信系統(tǒng)和光纖通信等,在這些系統(tǒng)中需要高采樣率和中低分辨率的ADC。同時,低功耗設(shè)計也是ADC設(shè)計中一個非常重要的方面。
  在所有的高速ADC中,全并行(flash)ADC由于其優(yōu)越的高速性能,已經(jīng)成為一個主流的研究課題。在保證ADC精度的前提下,如何實現(xiàn)其超高速和低功耗是本文研究的主要內(nèi)容,ADC系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的改進和具體模塊

2、電路的設(shè)計優(yōu)化是本文設(shè)計時的主要考慮方面。在本文中,主要設(shè)計實現(xiàn)了兩個8比特超高速flash ADC,一個基于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的flash ADC,另一個是基于反相器閾值電壓量化技術(shù)(TIQ,Threshold Inverter Quantization)的flash ADC。
  1、傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)flash ADC:Flash ADC設(shè)計經(jīng)常采用CMOS工藝,而閾值電壓失調(diào)是CMOS工藝一個比較大的限制,為了減小前置放大器的隨機失調(diào)誤差,電

3、阻平均網(wǎng)絡(luò)技術(shù)是一個比較流行的方法,本文深入探討了該技術(shù),并應(yīng)用于該ADC中。為了提高ADC的采樣速度,精度以及降低功耗,優(yōu)化了前置放大器結(jié)構(gòu)及增益帶寬,采用了超高速并聯(lián)鎖存比較器和高速的Fat Tree編碼,并在比較器輸出和編碼輸出都加了寄存器,使得ADC內(nèi)部數(shù)據(jù)流成流水線形式,從結(jié)構(gòu)上使得超高速成為可能,而優(yōu)化的高速比較器和高速編碼電路使得從電路上超高速成為可能,最終基于TSMC0.18um CMOS工藝設(shè)計了一個精度為8bit,最

4、高采樣率達2.3Ghz的超高速全并行ADC,其平均功耗為640mW,差分非線性為-0.1 LSB~0.1 LSB,積分非線性為-0.6:LSB~0.6 LSB,動態(tài)性能良好。
  2、TIQ flash ADC:利用反相器閾值電壓量化技術(shù)來設(shè)計ADC中的比較器,比較器由兩個相同尺寸的反相器級聯(lián),其閾值電壓決定了比較器的比較參考電壓。因此不需要時鐘電路,電阻分壓網(wǎng)絡(luò)和基準源,結(jié)構(gòu)簡單,速度高,而且可以采用標(biāo)準的數(shù)字CMOS工藝,尤其

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