混合式邏輯內(nèi)建自測(cè)試研究.pdf

1、傳統(tǒng)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)已經(jīng)不能滿(mǎn)足大規(guī)模集成電路測(cè)試的需求,芯片內(nèi)建自測(cè)試(BIST)已經(jīng)逐步運(yùn)用到芯片測(cè)試中.為了推動(dòng)邏輯的BIST在工業(yè)中的應(yīng)用,研究邏輯BIST具有重要意義.本文以提高邏輯BIST的測(cè)試質(zhì)量即提高故障覆蓋率、減少測(cè)試硬件開(kāi)銷(xiāo)和測(cè)試時(shí)間為目的,對(duì)混合式BIST中的測(cè)試生成和線性相關(guān)性展開(kāi)研究.本文首先介紹了BIST的結(jié)構(gòu)原理、測(cè)試生成的方法和在邏輯測(cè)試中的應(yīng)用方法.然后針對(duì)混合式BIST中研究的難點(diǎn)——確定性測(cè)

2、試矢量生成,進(jìn)行討論.然后提出了LFSR直接產(chǎn)生法和其測(cè)試生成結(jié)構(gòu)并針對(duì)映射法、重置種子法提出了靜態(tài)矢量壓縮和確定性矢量串連兩個(gè)優(yōu)化算法和結(jié)構(gòu).實(shí)驗(yàn)表明新的方法和結(jié)構(gòu)較為顯著的提高了混合式BIST的測(cè)試生成的質(zhì)量.接著本文討論了影響混合式BIST測(cè)試質(zhì)量的線性相關(guān)性的產(chǎn)生機(jī)理,分別提出了針對(duì)基于一維LFSR的測(cè)試生成結(jié)構(gòu)的相關(guān)性檢測(cè)方法和步驟以及二維TPG中移相器設(shè)計(jì)的算法和步驟.實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示所提出的檢測(cè)測(cè)試生成中的矢量和結(jié)構(gòu)相關(guān)性的方