集成電路測試方法研究

1、聲明：本講義內容用于內部交流和學習，請注意保護作者的版權集成電路測試方法研究集成電路測試方法研究華中科技大學IC設計中心陳新武聲明：本講義內容用于內部交流和學習，請注意保護作者的版權II4.5本章小結????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(42)5集成電路的低功耗集成電路的低功耗DFT

2、DFT方法方法5.1測試模式下功耗比較高的原因????????????????????????????????????????????????????????????(43)5.2基于掃描設計的低功耗DFT方法???????????????????????????????????????????????????????(44)5.3基于非掃描設計的低功耗DFT方法?????????????????????????????????????

3、??????????????(47)5.4本章小結????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(52)6測試調度問題測試調度問題6.1為測試調度問題建立數學模型????????????????????????????????????????????????????????????(53)6.

4、2解析測試基準電路ITC’02????????????????????????????????????????????????????????????????????(56)6.3測試調度算法????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(61)6.4實驗數據的構造??????????????????????

5、??????????????????????????????????????????????????????????????(64)6.5實驗結果與分析????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(65)6.6本章小結?????????????????????????????????????????????????

6、???????????????????????????????????????????????(66)7總結與展望總結與展望7.1總結???????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(68)7.2本文的創(chuàng)新點?????????????????????????????????????

7、??????????????????????????????????????????????????(69)7.3展望???????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(69)參考文獻參考文獻??????????????????????????????????????????????