數(shù)字集成電路原位替換應(yīng)用驗(yàn)證技術(shù)研究.pdf

1、隨著國(guó)內(nèi)集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，在宇航系統(tǒng)中越來(lái)越多的進(jìn)口數(shù)字集成電路被相應(yīng)型號(hào)的國(guó)產(chǎn)器件所替換。在其它高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)中，電子系統(tǒng)內(nèi)部集成電路產(chǎn)品的原位替換也常有發(fā)生。由于從實(shí)際應(yīng)用的角度上對(duì)替換產(chǎn)品缺乏有效的驗(yàn)證，原位替換之后的新系統(tǒng)往往會(huì)出現(xiàn)運(yùn)行錯(cuò)誤，這導(dǎo)致產(chǎn)品應(yīng)用方不能放心大膽地使用新產(chǎn)品。若能在替換產(chǎn)品投入使用前，對(duì)其在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中的工作狀態(tài)進(jìn)行快速有效的驗(yàn)證，就可以有效地避免這種情況的發(fā)生?，F(xiàn)有的應(yīng)用驗(yàn)證方法要求針對(duì)每一款待驗(yàn)證產(chǎn)

2、品設(shè)計(jì)相應(yīng)的驗(yàn)證板。但這樣的驗(yàn)證方法缺乏復(fù)用性，耗時(shí)長(zhǎng)且成本高，因此亟需一種快速有效的驗(yàn)證方法來(lái)實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證平臺(tái)的復(fù)用以減少驗(yàn)證時(shí)間與成本。
　　本文在對(duì)基本理論和現(xiàn)有應(yīng)用驗(yàn)證方案研究的基礎(chǔ)上，針對(duì)原位替換情境下數(shù)字集成電路的板級(jí)應(yīng)用驗(yàn)證通過(guò)改進(jìn)提出了可行有效的驗(yàn)證方案。所提出的方案將使用軟件仿真和FPGA模擬等手段來(lái)實(shí)現(xiàn)快速且有效的驗(yàn)證，此外根據(jù)平臺(tái)的不同方案還被分為基于軟件仿真的應(yīng)用驗(yàn)證方案和基于軟硬件協(xié)同仿真的應(yīng)用驗(yàn)證方案。概括

3、而言本應(yīng)用驗(yàn)證方案可分為兩步：第一步，采用信號(hào)完整性仿真的方法對(duì)元器件的應(yīng)用環(huán)境進(jìn)行模擬，并提取表征應(yīng)用環(huán)境影響的噪聲信息；第二步，基于第一步得到的應(yīng)用環(huán)境信息，使用純軟件仿真的方法對(duì)器件的仿真模型進(jìn)行驗(yàn)證，或者采用軟硬件協(xié)同仿真的方法對(duì)實(shí)體芯片進(jìn)行驗(yàn)證。本文首先對(duì)整個(gè)方案的流程進(jìn)行了說(shuō)明，并詳細(xì)地介紹了實(shí)現(xiàn)該方案的技術(shù)細(xì)節(jié)；其次針對(duì)處理器器件、存儲(chǔ)器件以及接口器件的實(shí)例，使用本文提出的應(yīng)用驗(yàn)證方案進(jìn)行了應(yīng)用驗(yàn)證。此外，依據(jù)方案要求本文

4、還對(duì)數(shù)字集成電路仿真模型的建立進(jìn)行了論述，并使用System Verilog語(yǔ)言設(shè)計(jì)和驗(yàn)證了處理器實(shí)例80C52的功能模型。
　　本論文基于所提出的數(shù)字集成電路原位替換應(yīng)用驗(yàn)證方案，得到了數(shù)字集成電路實(shí)例的板級(jí)應(yīng)用驗(yàn)證結(jié)果。其中處理器器件和接口器件通過(guò)了應(yīng)用驗(yàn)證，可正常工作；而存儲(chǔ)器件沒(méi)有通過(guò)應(yīng)用驗(yàn)證，在特定應(yīng)用環(huán)境下未能正確工作。本文所提出的數(shù)字集成電路原位替換應(yīng)用驗(yàn)證方案，能夠有效地對(duì)數(shù)字集成電路在特定應(yīng)用環(huán)境下的工作狀態(tài)進(jìn)行