復用NoC結(jié)構(gòu)的嵌入式IP核測試研究.pdf

1、基于NoC系統(tǒng)內(nèi)嵌IP核測試所采用的主流方案是復用NoC自身通信鏈路作為測試訪問通路，以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)的傳輸。但是傳統(tǒng)的NoC系統(tǒng)是針對正常功能模式下的傳輸特性進行設(shè)計和優(yōu)化的，這就為高效、可靠地復用NoC結(jié)構(gòu)對嵌入式IP核進行測試帶來了挑戰(zhàn)。本課題的研究內(nèi)容是綜合分析NoC的通信特點，在深入研究適用于NoC中嵌入式IP核測試的IEEE1500標準的基礎(chǔ)上，設(shè)計并實現(xiàn)一種高效的復用NoC通信結(jié)構(gòu)的嵌入式IP核的測試訪問機制，并將其應用于所

2、搭建的2D-Mesh拓撲結(jié)構(gòu)NoC各資源節(jié)點的測試。
　　在深入研究NoC通信特點的基礎(chǔ)上，本文將計算機網(wǎng)絡(luò)中的多播傳輸模式引入到NoC路由器的設(shè)計中，通過多播測試模式的開發(fā)，實現(xiàn)了NoC中對多目的節(jié)點大量測試數(shù)據(jù)的并行傳輸，完成了復用NoC結(jié)構(gòu)對嵌入式IP核的高效測試訪問。針對NoC中集成的IP核結(jié)構(gòu)互異而造成的測試電路難以被復用的問題，本課題為嵌入式IP核設(shè)計了兼容IEEE1500標準的測試殼，使得不同類型的IP核從測試集成的

3、角度來看是同構(gòu)的，從而方便了測試電路的復用，提升了測試效率?；谒_發(fā)的測試訪問機制與設(shè)計的通用型測試殼，利用所構(gòu)建的4×42D-Mesh結(jié)構(gòu)NoC，對所嵌入的IP核進行子網(wǎng)模式和多播模式的測試。綜合評估測試所使用的端口數(shù)量、測試功耗及測試時間等因素的結(jié)果表明，帶有8個目的地址的多播測試模式是4×42D-Mesh結(jié)構(gòu)NoC中嵌入式IP核測試的最佳方案。
　　論文采用Verilog HDL實現(xiàn)支持多播傳輸模式的NoC結(jié)構(gòu)及IEEE1