大規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試算法研究與分析.pdf

1、數(shù)字集成電路是當(dāng)今發(fā)展最快的技術(shù)領(lǐng)域之一。隨著VLSI技術(shù)進(jìn)入亞微米和深亞微米時(shí)代，電路日趨復(fù)雜，集成度日益增高，由此導(dǎo)致的數(shù)字集成電路復(fù)雜性急劇提高。與此同時(shí)，人們對(duì)數(shù)字集成電路的可靠性要求也越來越高，數(shù)字集成電路的測(cè)試技術(shù)也隨之得到了長(zhǎng)足的發(fā)展，并成為保證其可靠性的決定性因素之一。因此無論在工程領(lǐng)域還是科研領(lǐng)域，研究和實(shí)現(xiàn)好的測(cè)試算法已經(jīng)成為了必要。 本文從傳統(tǒng)的單固定型故障模型入手，全面的分析了現(xiàn)有的一些組合電路測(cè)試算法理

2、論。并重點(diǎn)研究了FAN算法以及其相關(guān)的理論和概念， FAN算法是目前國(guó)際上公認(rèn)的比較成熟和完善的算法，研究和實(shí)現(xiàn)這個(gè)算法對(duì)于掌握電路測(cè)試矢量的生成原理和測(cè)試過程有著很大幫助。因此本文基于FAN算法設(shè)計(jì)了一個(gè)簡(jiǎn)易的故障測(cè)試矢量生成系統(tǒng)。 為了加速測(cè)試，縮短測(cè)試矢量的產(chǎn)生時(shí)間。本文在測(cè)試系統(tǒng)中引入了SCOAP這個(gè)度量方法，在系統(tǒng)的預(yù)處理階段用SCOAP算法來確定電路中控制和觀測(cè)信號(hào)的難度，通過計(jì)算出每個(gè)節(jié)點(diǎn)的可控制性CC和可觀測(cè)性C

3、O來作為回退時(shí)選擇節(jié)點(diǎn)賦值次序以及故障傳播時(shí)選擇敏化路徑的依據(jù)。同時(shí)為了壓縮測(cè)試矢量，在系統(tǒng)中增加了故障模擬。通過對(duì)已有測(cè)試矢量的故障模擬，找到該測(cè)試矢量所能檢測(cè)到的故障，并在故障表中刪除對(duì)應(yīng)故障。通過這種方法可以減少測(cè)試生成的時(shí)間。 該算法在VC++6.0環(huán)境下實(shí)現(xiàn)，并運(yùn)用benchmark標(biāo)準(zhǔn)電路ISCAS’85對(duì)系統(tǒng)做了一些測(cè)試，分析了測(cè)試時(shí)間、故障覆蓋率、回溯次數(shù)之間的關(guān)系。測(cè)試結(jié)果表明系統(tǒng)功能達(dá)到了設(shè)計(jì)要求，本系統(tǒng)可以