無創(chuàng)性腦電阻抗監(jiān)測在顱內(nèi)腫瘤患者圍手術期應用.pdf

1、目的：探討正常人和顱腦腫瘤患者圍手術期腦電阻抗(cerebral electrical impedance，CEI)系數(shù)變化的規(guī)律，研究運用腦電阻抗對顱內(nèi)腫瘤患者圍手術期腦水腫進行無創(chuàng)監(jiān)測的可行性及可靠性。 方法：應用無創(chuàng)性腦電阻抗監(jiān)測方法，測定200例正常志愿者的雙側腦電阻抗系數(shù)和42例顱內(nèi)腫瘤患者術前1天，術后1、3、7、10天的雙側腦電阻抗系數(shù)。將其與臨床表現(xiàn)，顱內(nèi)壓(intracranial pressure，ICP)，

2、水腫指數(shù)(edema index，EI)進行對比研究。并依據(jù)腦電阻抗系數(shù)與上述參數(shù)的符合程度設定陽性病例條件。 結果：正常志愿者左，右側腦電阻抗系數(shù)分別為7.98±0.95，8.02±0.71，二者基本對稱，無明顯統(tǒng)計學差異(P>0.05)。年齡，性別，測定時間等因素對腦電阻抗系數(shù)無明顯影響。所有顱內(nèi)腫瘤患者中，陽性病例占78.6％(33/42)。良性腫瘤中陽性病例占81.5％(22/27)，惡性腫瘤中陽性病例占73.3％(11

3、/15)。幕上腫瘤中陽性病例占76.7％(23/30)，幕下腫瘤中陽性病例占83.3％(10/12)。腦外腫瘤中陽性病例占75.0％(18/24)，腦內(nèi)腫瘤中陽性病例占83.3％(15/18)。不同大小腫瘤中，<5cm腫瘤中陽性病例占85.7％(24/28)，>5cm腫瘤中陽性病例占64.3％(9/14)。全部切除腫瘤中陽性病例占86.9％(20/23)，近全切+大部分切除腫瘤中陽性病例占68.4％(13/19)。術中出血>600ml腫

4、瘤中陽性病例占68.2％(15/22)，術中出血<600ml腫瘤中陽性病例占90.0％(18/20)。上述因素組間陽性率比較均無顯著性差異(P>0.05)。保留骨瓣患者中陽性病例占85.7％(30/35)，去骨瓣患者中陽性病例占42.9％(3/7)，二者陽性率比較有明顯統(tǒng)計學差異(P=0.028)。 結論：腦電阻抗系數(shù)是一個能穩(wěn)定反映腦組織的電學特性的物理參數(shù)，能反映顱內(nèi)病情變化。無創(chuàng)性腦電阻抗監(jiān)測為顱內(nèi)腫瘤圍手術期腦水腫和顱內(nèi)