小麥、擬南芥低溫相關(guān)基因ADK、PBI的克隆與表達(dá)分析.pdf

1、小麥?zhǔn)侵袊?guó)乃至世界上一種重要的農(nóng)作物，低溫危害是影響小麥生產(chǎn)的主要環(huán)境因素之一。因此，培育能抗低溫小麥新品種尤其重要。挖掘小麥抗低溫相關(guān)基因，運(yùn)用轉(zhuǎn)基因技術(shù)提高小麥抗低溫性已成為重要研究方向。本研究利用cDNA-AFLP的方法從受低溫誘導(dǎo)的小麥中分離到ADK和PBI基因，并對(duì)其表達(dá)分析，進(jìn)行了分析和初步的功能驗(yàn)證，為以后的提高小麥抗低溫性的分子機(jī)理和育種實(shí)踐研究奠定了一定的基礎(chǔ)。.研究結(jié)果如下：
　　 (1)利用cDNA-AF

2、LP的方法從小麥中成功分離出4個(gè)受低溫影響的的基因片段；通過RT-PCR進(jìn)一步證實(shí)，這些基因表達(dá)受低溫影響，其中兩個(gè)基因表達(dá)量上調(diào)，另外兩個(gè)基因表達(dá)量下調(diào)。
　　 (2)對(duì)表達(dá)量的下調(diào)的兩個(gè)基因，從模式植物擬南芥中克隆出其基因全長(zhǎng)，分別命名為AtADK和AtPBI，全長(zhǎng)分別為1767 bp和591 bp。
　　 (3)應(yīng)用半定量RT-PCR法對(duì)擬南芥中AtADK和AtPBI基因進(jìn)行表達(dá)分析，發(fā)現(xiàn)AtADK和AtPBI