新生兒低血糖腦病

1、新生兒低血糖腦病(hypoglycemic encephalopa-thy ,HE),朱承峰,定義,新生兒低血糖：不考慮出生體質(zhì)量和孕周，生后24 h內(nèi)血糖<2. 2 mmol/L，24 h后血糖<2. 8 mmol/L （國(guó)外）我國(guó)目前多數(shù)學(xué)者認(rèn)為全血血糖<2.2mmol/L時(shí)應(yīng)診斷為低血糖，而不考慮出生體質(zhì)量、胎齡及出生日齡。但導(dǎo)致低血糖性腦損傷的血糖閾值國(guó)內(nèi)外尚無(wú)定論,新生兒低血糖腦?。?1

2、.符合新生兒低血糖診斷 2.有低血糖的臨床表現(xiàn) 3.影像學(xué)檢查出現(xiàn)腦損傷的異常表現(xiàn) MRI是目前診斷新生兒HE的最佳影像學(xué)方法,具有逐漸取代超聲和CT的趨勢(shì),病因,低出生體重兒，由于肝糖原和棕色脂肪儲(chǔ)存量少，生后代謝所需要能量又相對(duì)高，容易發(fā)生低血糖新生兒嚴(yán)重疾患如窒息、敗血癥等葡萄糖利用增加容易發(fā)生低血糖，在缺氧的狀態(tài)下，糖酵解作用增加了3一10倍，大量糖被消耗母親因素如高血壓、糖尿病等患兒本身因素如內(nèi)分

3、泌、代謝性疾病等,病理生理,對(duì)于腦細(xì)胞代謝而言，葡萄糖與氧具有同等重要的作用，因?yàn)槠咸烟鞘悄X細(xì)胞代謝的唯一能源，尤其對(duì)發(fā)育中的腦更為重要。葡萄糖供應(yīng)不足直接影響細(xì)胞線粒體氧化磷酸化過(guò)程，ATP合成量減少，局部高能磷酸耗盡，以致腦損傷。低血糖癥常引起腦損傷，而且這種損傷往往是不可逆。,,低血糖性腦部癥狀發(fā)生的程序與腦細(xì)胞的發(fā)育進(jìn)化程度有關(guān)，細(xì)胞愈進(jìn)化，對(duì)缺糖、缺氧愈敏感。當(dāng)發(fā)生低血糖時(shí)，往往大腦皮質(zhì)首先受到抑制，繼而皮質(zhì)下中樞包括邊緣系統(tǒng)

4、、網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)、基底核、下丘腦及自主神經(jīng)中樞相繼累及。,,新生兒低血糖性腦損傷不僅與低血糖的嚴(yán)重程度有關(guān)，并且與持續(xù)時(shí)間及有癥狀性低血糖的反復(fù)出現(xiàn)密切相關(guān)。持續(xù)或反復(fù)性低血糖可使新生兒腦發(fā)育延遲，智力低下，甚至引起死亡。文獻(xiàn)指出血糖小于1.2 mmol/L時(shí)，嚴(yán)重腦損傷的發(fā)生率較高。,癥狀,新生兒低血糖，大多數(shù)患兒無(wú)癥狀，有癥狀的臨床可表現(xiàn):陣發(fā)性發(fā)緒、震顫、驚厥、反應(yīng)差、拒乳、呼吸暫停、嗜睡等,,典型新生兒HE主要涉及頂枕葉皮質(zhì)或皮層下

5、，多數(shù)對(duì)稱性受累，也可單側(cè)受累非典型新生兒HE可涉及頂枕葉以外的部位，包括胼胝體、腦室旁白質(zhì)、內(nèi)囊后肢、視輻射、基底節(jié)、丘腦等，其中胼胝體壓部最常受累,新生兒HE的MRI表現(xiàn),①頂枕葉信號(hào)異常，急性期表現(xiàn)為皮層、皮層下斑片狀長(zhǎng)T1長(zhǎng)T2信號(hào)，彌散加權(quán)(DWI)呈高信號(hào)，早期病變有時(shí)在常規(guī)T1 WI, T2 WI上表現(xiàn)正常，而僅在彌散加權(quán)上呈高信號(hào)②內(nèi)囊后肢及胼胝體壓部受累及，表現(xiàn)內(nèi)囊后肢在T1 WI上高信號(hào)影消失，提示有脫髓鞘或髓鞘

6、化有障礙，往往在嚴(yán)重低血糖、低血糖持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)或HIE合并低血糖的患兒,③兩側(cè)大腦半球彌漫性病變，表現(xiàn)為除頂枕葉有斑片狀異常信號(hào)外，皮層、皮層下及腦室旁還可見(jiàn)斑點(diǎn)、條狀短T1信號(hào)，短T2信號(hào)，與缺氧缺血后毛細(xì)血管反應(yīng)性充血及紅細(xì)胞、血紅蛋白滲出有關(guān)④亞急性期頂枕葉有腦萎縮，表現(xiàn)腦溝增寬，皮質(zhì)變薄，T1加權(quán)像上腦回呈稍高信號(hào)，腦萎縮與神經(jīng)元壞死和凋亡有關(guān),,圖1 DWI像雙側(cè)枕葉對(duì)稱分布高信號(hào)影 圖2 DWI像雙側(cè)頂葉對(duì)稱分布高