基于FDR編碼的數(shù)字電路測試壓縮方法研究.pdf

1、龐大的測試數(shù)據(jù)量對自動測試設備(ATE)的存儲性能、I/O通道數(shù)和工作頻率提出了更高的要求，同時增加了測試應用時間，提高了測試成本。因此，如何降低測試成本成為集成電路測試的一個重要研究課題。本文圍繞這個課題提出了兩種測試壓縮方法。
　　(1)FDR編碼方法有效地降低了測試數(shù)據(jù)量，但其測試集中的無關位全部填充為0，平均每個測試向量檢測的故障數(shù)目較少，測試質量較低。為了提高測試質量，并進一步提高測試數(shù)據(jù)壓縮率，本文提出了一種利用前一個

2、測試向量的響應填充當前測試向量無關位的測試壓縮方法，該方法提高了測試向量中無關位填充的隨機性，從而提高了測試集的測試質量。提出方法的壓縮效率與測試向量的順序有關，本文基于最近鄰居算法對測試集進行排序，降低測試響應與下一個測試向量之間的距離，對測試響應和測試向量差分處理后再進行FDR編碼，從而降低數(shù)據(jù)量。實驗結果表明，對于較大的ISCAS'89電路，與FDR相比，該方法測試質量平均提高了5.9％，測試壓縮率平均提高了2.5％，而增加的硬件

3、開銷僅為一個兩輸入異或門，可以忽略不計。
　　(2)通過將測試數(shù)據(jù)廣播到相容的掃描單元（掃描樹的同一層），掃描樹技術有效地降低了測試數(shù)據(jù)量和測試應用時間。本文將上述提出方法應用到掃描樹技術中，提出了一種基于掃描樹技術與FDR的測試壓縮方法。該方法對掃描樹的測試響應和下一個測試向量做差分，再對差分向量進行FDR編碼。這里的測試響應和測試向量可由每層的任一個掃描單元的值組成。由于同一層掃描單元的測試向量值相同，而測試響應值可能不同，可