IP核測試訪問和掃描鏈低功耗測試方法研究與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、分類號TP306.2學號12060009ＵＤＣ密級公開工學碩士學位論文IP核測試測試訪問訪問和掃描掃描鏈低功耗測試低功耗測試方法方法研究研究與實現(xiàn)與實現(xiàn)碩士生姓名鄧秋嚴學科專業(yè)電子科學與技術研究方向集成電路可測性設計指導教師劉衡竹研究員國防科學技術大學研究生院國防科學技術大學研究生院二〇二〇一四年十年十一月ResearchImplementationofIPCeTestAccessLowPowerTestingMethodologyon

2、ScanChainsCidate：QiuyanDengAdvis：HengzhuLiuAdissertationSubmittedinpartialfulfillmentoftherequirementsfthedegreeofMasterofEngineeringinElectronicScienceTechnologyGraduateSchoolofNationalUniversityofDefenseTechnologyChang

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