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文檔簡介
1、面板數(shù)據(jù)及其單位根檢驗(yàn)的全面性等優(yōu)勢決定了該理論具有廣泛的應(yīng)用價值,而中國經(jīng)濟(jì)研究目前仍處于面板數(shù)據(jù)計量經(jīng)濟(jì)學(xué)應(yīng)用研究的襁褓期,深化面板單位根檢驗(yàn)的應(yīng)用研究對于推動中國經(jīng)濟(jì)理論和實(shí)踐的科學(xué)化具有重要的理論價值和現(xiàn)實(shí)意義。由于實(shí)證研究中主要用到的是中小樣本的面板數(shù)據(jù),尤其是小樣本面板數(shù)據(jù),所以本文集中精力探討存小樣本的情況下,三種主要的面板數(shù)據(jù)單位根檢驗(yàn)方法(Levin-Lin檢驗(yàn)、Im-Pesaran-Shin檢驗(yàn)和Fisher 檢驗(yàn))
2、的勢(Power)和實(shí)際檢驗(yàn)水平(Size),以期能為實(shí)證研究提供一些理論參考。接著簡要介紹了兩種主要的面板數(shù)據(jù)協(xié)整方法,最后給出的實(shí)證作為本文面板數(shù)據(jù)單位根檢驗(yàn)和協(xié)整方法應(yīng)用的一個舉例。 研究小樣本面板數(shù)據(jù)單位根檢驗(yàn)的性質(zhì)時,首先利用統(tǒng)計軟件stata進(jìn)行面板數(shù)據(jù)生成(DGP),然后針對不同的個體N和時期T,進(jìn)行了10000次的蒙特卡羅模擬,計算三種面板數(shù)據(jù)單位根檢驗(yàn)的勢和實(shí)際檢驗(yàn)水平。本文最主要的創(chuàng)新點(diǎn)就在于放松了面板數(shù)據(jù)個
3、體之問不相關(guān)的假定,也就是說模擬生成的面板數(shù)據(jù)是存在個體之間序列相關(guān)的并在此基礎(chǔ)上進(jìn)行了面板數(shù)據(jù)單位根檢驗(yàn)小樣本的勢和實(shí)際檢驗(yàn)水平的研究。得到的結(jié)論如下: (1)總的來看,IPS檢驗(yàn)是3種檢驗(yàn)中檢驗(yàn)功效最籌的,而LLC檢驗(yàn)是效果最好的,但同時應(yīng)注意到,LLC檢驗(yàn)的實(shí)際檢驗(yàn)水平(size)也足最高的,這也就意味著當(dāng)序列確實(shí)存在單位根的時候,LLC檢驗(yàn)拒絕單位根的可能性也最大。因此,出于穩(wěn)健性考慮,在個體數(shù)量較少且時間跨度不大的情況
4、下,最好選用Fisher檢驗(yàn)。 (2)由于數(shù)據(jù)生成中的誤差項(xiàng)是根據(jù)AR(1)過程來生成的,所以ADF(1)應(yīng)該是正確的滯后階數(shù)。注意到,IPS檢驗(yàn)隨著N和T的增加,滯后階數(shù)選擇不足造成檢驗(yàn)的勢的明顯降低并且當(dāng)滯后階數(shù)選擇正確時,N固定檢驗(yàn)的勢隨著T的增加而增加;ADF的階數(shù)選擇看來對Fisher檢驗(yàn)的勢的影響不是特別顯著,但是如果當(dāng)ADF的滯后項(xiàng)選擇正確那么檢驗(yàn)得到的勢是最大的,并且當(dāng)N固定時隨著T的增加而減少;當(dāng)ADF的滯后階
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